X射线空间分辨力测试卡 产品名称： X射线分辨力测试卡 产品厂家：廊坊玉双仪器设备有限公司，生产加工：X射线分辨力测试卡 产品介绍：X射线分辨力测试卡，也称为线对卡，是一种专门用于测试X射线成像设备分辨率的工具。这种测试卡通常由一系列线对组成，这些线对具有不同的线对每毫米(LP/MM)值，量程一般在0.6-5.0LP/MM之间。通过这些线对，可以评估X光影像系统的

CRDR分辨率测试卡，设备概述射线分辨率测试卡是一种专门用于评估X射线成像设备性能的检测工具。这种测试卡通常由一系列不同线对组成的图案构成，通过这些图案可以确定设备能够清晰地呈现细微结构的能力。射线分辨率测试卡的存在，对于确保新设备投入使用前或现有设备维护后的性能达标，以及定期的质量程序，都起到了重要的作用。

CRDR分辨率测试卡，是一种用于检测CR（Computed Radiography，计算机放射成像）和DR（Digital Radiography，数字放射成像）系统空间分辨率的工具。这种测试卡通常由一系列线对组成，这些线对具有不同的线对每毫米（LP/MM）值，量程一般在0.6-5.0LP/MM之间。通过这些线对，可以评估X光影像系统的分辨率性能。 使用CRDR分辨率测试卡时，

放射质控卫生检测二度星卡2度星卡是一种用于检测X射线机等透视或成像设备的X射线的分辨率的装置。它在市场上广泛使用，并且通常由国外进口，因为目前国内市场尚无成熟的线对卡能满足需求1。2度星卡的名称来源于它的设计，其特点是线对成辐射状，类似星星，因此得名星卡9。 以下是有关2度星卡的一些具体信息：

头影测量畸变测试卡，几何畸变测试卡T06A被设计用来检查几何畸变和分辨率。测试卡类似于一个由13×18的黑色和白色正方形区域以及由矩形区域在对应于电子测试生成器14/19网格光栅线边缘所包围的棋盘。（整个图卡发生器的水平网格线被划分为相应于42行）。 九个扇形星内圆线条标出625线结构。较大的圆形线条标出312线的结构。横向对应的垂直线光栅分布着33个白格。它们对应于2，3.5和5MHz频率光栅